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背板/主機殼測試 W 3525

W 3504 及 W 3525測試系統用於中尺寸至超大背板及軌道。

可管理多數量接點的測試,在極短時間內可測試高達 300,000測試點。

將測試點整合至可移動式daisy-chain cartridges避免複雜及出錯之狀況,達到高精確度

它也可以達到快速,自動接點及造成較高產量。

 

特點

 ●快速測試速度並同時達到精準度
-透過單一電晶體達到快速測試 (單一點切換矩陣)
-透過減少測試點及待測物之間的電纜線及插頭連接器數量,以達到高精準度

●在測試系統配置上有較多的變化
-多種測試點模組: 提供32,128,192,或256測試點
-選配附有測試點卡的擴充機台

●可針對現有製造系統作到理想客製化
-根據接點及搭配插頭的數量,daisy-chain cartridges的客製化配置

●測試&量測性能
最大電壓250VDC (12-Bit 解析度)
恆定電流1mA, 10mA, 或50mA
通路閥值可低至0.5 Ohms (± 2% ± 0.25 Ohms)
絕緣閥值可達10 MOhm (± 1%), 及 100 MOhms (± 3%)
電阻測試從0.5 Ohms 至 100 MOhms (± 3% ± 0.25 Ohms)
電容器測試從20 nF 至 40,000 µF (± 10% ± 10 nF)
二極體及稽納二極體測試作開路,短路及反向插入
按鍵及開關器之功能測試

 

●硬體
外裝模組有32, 128, 192 或 256測試點
使用PCI介面連接至PC (包含介面線)
可擴充至307,200測試點
選配的遠端遙控介面作為驅動外部裝置 (饋線及治具,等)


●尺寸 & 重量
19吋Rack-Mount 附輪機箱
21.7x19.7x23.6英吋 (W x D x H)
110 lbs